암호# | 500-080 |
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렌즈 | 0.088X 더블 텔레센트릭 렌즈 |
작업 거리 | 120mm |
와이드 필드 | Ø116mm(94x76) |
측정 정확도 | ±4um |
암호# | 525-120H |
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대리석 작업대 | (605*450)mm |
유리 작업대 | (456*348)mm |
X/Y 축 이동 | (400*300)mm |
Z축 이동 | 200MM |
암호# | 525~320H |
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대리석 작업대 | (605*450)mm |
유리 작업대 | (456*348)mm |
X/Y 축 이동 | (400*300)mm |
Z축 이동 | 200MM |
비메아322A | 524-220G |
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X/Y 축 이동 | (300*200)mm |
Z축 이동 | 200MM |
X/Y/Z 3축 선형 스케일(mm) | 해상도: 0.5um |
반복 가능성 | 2 um |
암호# | 500-031 |
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측정 범위 | 300x200x75mm |
최소 단위 | 0.1μm |
용량 | 5Kg |
고정밀 모드 | 26x18mm |
암호# | 523-280K |
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X/Y 축 이동 | (600*500)mm |
Z축 이동 | 200MM |
X/Y/Z 축 선형 척도 | 해상도: 0.1um |
XY 축 정확도 | ≤1.8+L/200(㎛) |
암호# | 523-480L |
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X/Y 축 이동 | (800*600)mm |
Z축 이동 | 200MM |
X/Y/Z 축 선형 척도 | 해상도: 0.1um |
XY 축 정확도 | ≤1.8+L/200(㎛) |
암호# | 523-180M |
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X/Y 축 이동 | (1500*1200)mm |
Z축 이동 | 200MM |
X/Y/Z 축 선형 척도 | 해상도: 0.1um |
XY 축 정확도 | ≤3.0+L/200(㎛) |
암호# | 522-420G |
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X/Y 축 이동 | (300*200)mm |
Z축 이동 | 200MM |
X/Y/Z 축 선형 척도 | 0.5 um |
XY 축 정확도 | ≤2.0+L/200(㎛) |
암호# | 525-180N |
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X/Y 축 이동 | (1000*1000)mm |
Z축 이동 | 300mm |
X/Y/Z 축 선형 스케일 | 해상도: 0.1um |
가이드 모드 | 정밀 선형 안내 레일 |